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戴宪滨,孙文瑶,尹健.基于ARM微处理器和嵌入式系统的电能质量检测装置设计[J].电测与仪表,2014,51(18):.
DAI Xian-bin,SUN Wen-yao,YIN Jian.Design of Power Quality Tests Device Based on ARM Microprocessor and Embedded System[J].Electrical Measurement & Instrumentation,2014,51(18):.
基于ARM微处理器和嵌入式系统的电能质量检测装置设计
Design of Power Quality Tests Device Based on ARM Microprocessor and Embedded System
DOI:
中文关键词:  电能质量  ARM  嵌入式  μC/OS-Ⅱ
英文关键词:Power Quality  ARM  Embedded  μC/OS-II
基金项目:
        
作者中文名作者英文名单位
戴宪滨DAI Xian-bin沈阳工程学院电气工程系
孙文瑶SUN Wen-yao沈阳工程学院电气工程系
尹健YIN Jian沈阳工程学院电气工程系
摘要点击次数: 2504
中文摘要:
      本文根据当前电力系统中存在的实际问题,在研究了大量的电能质量测控与分析的同类产品,并在进一步加以具体分析的基础上,选用以ARM7为内核的LPC2119芯片作为本装置的主控制器,以AVR ATMEGA16芯片作为辅助控制器,制定了具有自身特色的电能质量监测装置的设计方案。经过试验分析,验证了本方案的合理性。
英文摘要:
      This paper, according to the practical problems existing in the power system, based on the study of a large amount of power quality monitoring and analysis of similar products and makingSaSconcreteSanalysisSfurther, choosing the LPC2119 chip based on ARM7 as the main controller of this device and the AVR ATMEGA16 chip as the assistant controller, make the design scheme of power quality monitoring device with its own characteristics. The rationality of this scheme was verified based onStheSanalysisSofSexperiments.
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