某LED开关电源的高加速寿命试验(HALT)研究

叶雪荣; 刘高锋; 孙博; 刘明伟; 王一行; 翟国富

叶雪荣,刘高锋,孙博,刘明伟,王一行,翟国富.某LED开关电源的高加速寿命试验(HALT)研究[J].电测与仪表,2016,53(2):.
YE Xue-rong,LIU Gao-feng,SUN Bo,liumingwei,WANG Yi-xing,ZHAI Guo-fu.Highly Accelerated Life Test (HALT) Research on a LED Switching Power Supply[J].Electrical Measurement & Instrumentation,2016,53(2):.

某LED开关电源的高加速寿命试验(HALT)研究

Highly Accelerated Life Test (HALT) Research on a LED Switching Power Supply

DOI：

中文关键词: LED开关电源高加速寿命试验失效判据全轴随机振动

英文关键词:LED switching power supply, high accelerated life test, failure criterion, Omni axes random vibration

基金项目:

作者中文名	作者英文名	单位
叶雪荣	YE Xue-rong	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院
刘高锋	LIU Gao-feng	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院
孙博	SUN Bo	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院
刘明伟	liumingwei	上海海关学院
王一行	WANG Yi-xing	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院
翟国富	ZHAI Guo-fu	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院

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中文摘要:

LED作为新兴固态照明系统,其驱动电源的可靠性也引起了广泛的关注。高加速寿命试验作为可靠性强化试验,可以在较短时间内激发电子系统的故障模式。本文以某LED驱动用开关电源为对象,对其高加速寿命试验进行了研究。首先分析了该电源的基本结构与工作原理,确定其失效判据。设计了随机振动步进应力试验方案,得到该电子系统的可靠性薄弱环节,为其可靠性设计提供依据。

英文摘要:

LED is a novel solid state lighting system, the reliability of whose driving power supply has attracted a wide attraction. As the reliability enhancement test, highly accelerated life test can excited the failure modes of the electronic system in a short period. This paper proposed a high accelerated life test with the LED switching power supply. Firstly, it analysed the basic structure and principle of the switching power supply. Then it determined the failure criterion. The paper also designed the random vibration step stress test plan and found the weak link reliability of the electronic system, which provided the basis for the reliability design.

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