级联MOSFET均压测试方法研究

付明; 王子才; 张华; 张东来

付明,王子才,张华,张东来.级联MOSFET均压测试方法研究[J].电测与仪表,2024,61(1):201-206.
FU Ming,WANG Zicai,ZHANG Hua,ZHANG Donglai.Study on cascaded MOSFETs voltage-sharing test method[J].Electrical Measurement & Instrumentation,2024,61(1):201-206.

级联MOSFET均压测试方法研究

Study on cascaded MOSFETs voltage-sharing test method

DOI：10.19753/j.issn1001-1390.2024.01.031

中文关键词: 级联MOSFET 均压测试高压开关寄生参数

英文关键词:cascaded MOSFETs, voltage-sharing test, high-voltage switch, parasitic parameter

基金项目:国家自然科学基金资助项目（51777041）；深圳市科技计划项目(JSGG20190823144607320)；国家科技重大专项项目（2017ZX01013101-003）

作者中文名	作者英文名	单位
付明	FU Ming	1. 哈尔滨工业大学航天学院，哈尔滨 150001；2. 深圳航天科技创新研究院，广东深圳 518057
王子才	WANG Zicai	哈尔滨工业大学航天学院，哈尔滨 150001
张华	ZHANG Hua	深圳航天科技创新研究院，广东深圳 518057
张东来	ZHANG Donglai	哈尔滨工业大学(深圳)机电工程与自动化学院，广东深圳 518055

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中文摘要:

文章分析了传统均压测试方法中，隔离高压探头寄生参数对级联MOSFET均压效果的影响。通过改变同一高边MOSFET的DS电压测试探头数量，分析了测试方法引入寄生参数的变化对瞬态均压的干扰程度。基于此提出了一种减法均压测试方法，并对所提出的减法均压测试方法的优化进行了分析与实验验证。实验结果表明该测试方式能精确评估级联MOSFET在稳态以及开通、关断瞬态的均压效果，且不受测试线缆寄生参数的影响。

英文摘要:

In this paper, the influence of isolated high-voltage probe parasitic parameters on the cascaded MOSFETs voltage-sharing in traditional voltage-sharing test method is investigated. By changing the number of VDS measuring probes in the same high-side MOSFET, the interference degree of the parasitic parameters introduced into the test method to the transient voltage-sharing is analyzed. On this basis, a test method of voltage-sharing by subtraction is proposed, and its optimization is analyzed and verified by experiments. The experimental results show that the proposed method can accurately evaluate the voltage-sharing ffect of cascaded MOSFETs in steady state and ON/OFF transients , and it is not affeted by the parasitic parameters of the test cable.

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