• 设为首页
  • 加入收藏
  • 联系邮箱
  • 网站首页
  • 期刊介绍
    • 期刊简介
    • 历任主编
    • 期刊荣誉
  • 编委会
    • 社长及主编
    • 主任委员
    • 编委名单
  • 投稿指南
    • 作者须知
    • 投稿步骤
    • 范文(规范细则)
    • 稿件处理流程
    • 著作权转让协议
  • 期刊影响力
  • 开放获取
  • 出版道德政策
    • 出版伦理声明
    • 学术不端认定和处理方法
    • 广告及市场推广
    • 同行评议流程
    • 斟误和撤回
    • 回避制度
    • 文章署名及版权转让
  • 历年目次
  • 联系我们
  • English
站内检索    
 
赵志财,于海,万秋华,赵长海,李勇杰.光栅直线位移测量技术研究进展与展望[J].电测与仪表,2025,62(2):51-61.
ZHAO Zhicai,YU Hai,WAN Qiuhua,ZHAO Changhai,LI Yongjie.Research progress and prospects of grating linear displacement measurement technology[J].Electrical Measurement & Instrumentation,2025,62(2):51-61.
光栅直线位移测量技术研究进展与展望
Research progress and prospects of grating linear displacement measurement technology
DOI:10.19753/j.issn1001-1390.2025.02.007
中文关键词:  光栅直线位移测量  高精度  高分辨力  大量程  研究进展  展望
英文关键词:grating linear displacement measurement, high precision, high resolution, large range, research progress, prospect
基金项目:国家自然科学基金资助项目( 52075520);吉林上自然科学基金项目(20230101111JC)
              
作者中文名作者英文名单位
赵志财ZHAO Zhicai中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
于海YU Hai中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
万秋华WAN Qiuhua中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
赵长海ZHAO Changhai中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
李勇杰LI Yongjie中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要点击次数: 317
中文摘要:
      直线位移测量技术在机械精密制造领域扮演着至关重要的角色,是保证加工精度的关键。与其他直线位移测量技术相比,光栅直线位移测量技术具有测量精度高、抗干扰能力强,易于实现大量程测量等优点,已成为当下研究热点之一,为进一步开展光栅直线位移测量技术研究,文中分析了三种光栅直线位移测量系统的测量原理,归纳整理了三种光栅直线位移测量的研究进展,并总结现有研究的优点与存在的不足:基于莫尔条纹的光栅直线位移测量技术受限于衍射极限的影响,分辨力难以进一步提高,基于衍射光栅的直线位移测量技术难以实现绝对位置测量,基于图像处理算法的直线位移测量技术存在集成化程度较低、测量范围有限等缺点,展望了光栅直线位移测量技术的发展方向。为开展光栅直线位移测量技术研究提供依据。
英文摘要:
      Linear displacement measurement technology plays an essential role in the precision manufacturing sector, ensuring the accuracy of machining processes. Compared with other linear displacement measurement technologies, grating-based linear displacement measurement techniques offer high measurement precision, strong resistance to interference, and the ease of implementing large-scale measurements, making it a current research focus. To advance the study of grating linear displacement measurement technology, this paper initially analyzes the measurement principles of three types of grating linear displacement measurement systems. It reviews the research progress in these three areas and summarizes the strengths and limitations of existing studies: the grating linear displacement measurement technology based on Moire fringes is constrained by the diffraction limit, which hinders further improvements in resolution; the technology based on diffraction gratings struggles with absolute position measurement; and the technology based on image processing algorithms suffers from low integration and limited measurement range. This paper prospects the future development directions for grating linear displacement measurement technology, providing a foundation for further research in this field.
查看全文  查看/发表评论  下载PDF阅读器
关闭
  • 哈尔滨电工仪表研究所有限公司
  • 中国电工仪器仪表信息网
  • 中国仪器仪表学会
  • 中华人民共和国新闻出版总署
  • 中国科技期刊编辑学会
  • 黑龙江省科学技术协会
  • 编辑之家
  • 中国知网
  • 万方数据库
  • 维普网
  • 北极星电力网
  • 中华中控网
  • 网站首页
  • 期刊介绍
    • 期刊简介
    • 历任主编
    • 期刊荣誉
  • 编委会
    • 社长及主编
    • 主任委员
    • 编委名单
  • 投稿指南
    • 作者须知
    • 投稿步骤
    • 范文(规范细则)
    • 稿件处理流程
    • 著作权转让协议
  • 期刊影响力
  • 开放获取
  • 出版道德政策
    • 出版伦理声明
    • 学术不端认定和处理方法
    • 广告及市场推广
    • 同行评议流程
    • 斟误和撤回
    • 回避制度
    • 文章署名及版权转让
  • 历年目次
  • 联系我们
地址:哈尔滨市松北区创新路2000号    邮编:150028
邮箱:dcyb@vip.163.com    电话:0451-86611021;87186023
© 2012 电测与仪表    哈公网监备2301003445号
黑ICP备11006624号-1
技术支持:北京勤云科技发展有限公司