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任冠臣,舒征宇,张紫格,张优美,鲍刚,雷明.典型环境下多型号智能电能表序贯加速验证方法研究[J].电测与仪表,2026,63(2):178-187.
REN Guanchen,SHU Zhengyu,ZHANG Zige,ZHANG Youmei,BAO Gang,LEI Ming.Research on Sequential Acceleration Verification Method for Multi model Intelligent Energy Meters with Gradual Exit in Typical Environments[J].Electrical Measurement & Instrumentation,2026,63(2):178-187.
典型环境下多型号智能电能表序贯加速验证方法研究
Research on Sequential Acceleration Verification Method for Multi model Intelligent Energy Meters with Gradual Exit in Typical Environments
DOI:10.19753/j.issn1001-1390.2026.02.019
中文关键词:  可靠性验证试验  序贯试验  Weibull分布  多型号智能电能表  典型环境
英文关键词:Reliability verification test, Sequential test, Weibull distribution, Multi-model electricity meters, Typical environments
基金项目:国家自然科学基金资助项目( 62476153)
                 
作者中文名作者英文名单位
任冠臣REN Guanchen三峡大学
舒征宇SHU Zhengyu三峡大学
张紫格ZHANG Zige三峡大学
张优美ZHANG Youmei哈尔滨理工大学
鲍刚BAO Gang三峡大学
雷明LEI Ming三峡大学
摘要点击次数: 73
中文摘要:
      针对典型环境下多型号智能电能表可靠性验证试验效率低、资源受限等问题,提出一种融合加速效应与动态退出机制的序贯试验方案。基于Weibull分布构建可靠寿命指标的加速抽样特性函数,通过等效时间模型将时变应力试验数据映射至参考条件,建立序贯概率比检验框架。设计动态退出式多型号同步验证机制,通过动态剔除已判决型号并更新检验标准,实现有限表位下的多型号并行验证。研究为典型环境下多型号电子产品可靠性协同验证提供了兼顾效率与精度的解决方案。
英文摘要:
      To address the inefficiency and resource constraints of reliability verification tests for multi-model electricity meters in high dry-heat environments, this study proposes a sequential test scheme integrating time-varying acceleration effects and dynamic withdrawal mechanisms. Based on the Weibull distribution, an accelerated sampling characteristic function for reliability life indicators is constructed. A time-equivalent model is employed to map time-varying stress test data to reference conditions, establishing a sequential probability ratio test (SPRT) framework. A successive withdrawal-based multi-model synchronous verification mechanism is designed, dynamically eliminating adjudicated types and updating test criteria to achieve parallel verification of multi-model meters under limited test slots. This research provides an efficient and precise solution for collaborative reliability verification of multi-model electronic products in typical environments.
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